Experimentální elipsometr LCP-25

Stručný popis:

Ruční eliptický polarimetr využívá metodu extinkce k měření tloušťky a indexu lomu filmu a ručně reguluje odchylku a úhel odchylky během testovacího procesu. Elipsometrie se široce používá při měření tenkých dielektrických filmů na pevném substrátu. Touto metodou lze měřit tloušťku filmu s nejtenčí a nejvyšší přesností.

Pošlete nám e-mail

Detaily produktu

Štítky produktů

Specifikace

Popis	Specifikace
Rozsah měření tloušťky	1 nm ~ 300 nm
Rozsah úhlu dopadu	30º ~ 90º, chyba ≤ 0,1º
Úhel průsečíku polarizátoru a analyzátoru	0° ~ 180°
Úhlová stupnice disku	2° na stupnici
Minimální odečet Verniera	0,05 °
Výška optického středu	152 mm
Průměr pracovního stolu	Φ 50 mm
Celkové rozměry	730x230x290 mm
Hmotnost	Přibližně 20 kg

Seznam dílů

Popis	Množství
Elipsometrická jednotka	1
He-Ne laser	1
Fotoelektrický zesilovač	1
Fotobuňka	1
Křemičitý film na křemíkovém substrátu	1
CD s analytickým softwarem	1
Návod k obsluze	1